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MicroLED光互连技术路线玩家深挖Avicena

Avicena 下一关:评估套件之后,怎样走向可维护的 MicroLED 系统?

连接器怎样影响数百条光通道?用原始光纤阵列、串扰 BER 与主机接口图,讲清插拔公差、诊断、重训练和系统验收。

Kaiyo Nan
This article was written in Chinese and auto-translated via Google Translate.
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MicroLED 光互连 · 玩家深挖 05。事实核对截至 2026-09-20;原图与独立分析分开,点击可查看大图。手机宽表可左右滑动。

本文目录
  1. 1. 1 Tbps 是起点,客户真正要接管的是一套测量边界
  2. 2. 多芯光纤连接器,真正难的是每次都回到同一张空间地图
  3. 3. 插损与串扰必须一起验收
  4. 4. 可维护性不是“拔下来,再插回去”这一个动作
  5. 5. 主机仍然很快,光侧“宽而慢”不自动消除接口电路
  6. 6. 怎样判断下一次进度真的前进了?

Avicena 这一阶段最值得研究的,不是再把一颗 LED 的峰值速度写大一点,而是它正在把问题从“实验室能传多少”推向“系统工程师能否独立装配、验收和更换”。

2026 年 8 月 18 日,公司宣布向客户和伙伴交付 1 Tbps LightBundle 评估套件:最多 335 条 MicroLED 数据通道、每路最高 3 Gbps,连接集成 PD 阵列。这里是 aggregate raw throughput,不是应用净荷。9 月 17 日,公司又预告将在 9 月 21—23 日 ECOC 展示可拆卸、可重连的在线光接口。截至本文日期,后一场演示尚未发生。评估套件公告;连接器化预告。

这两步有实际意义,但需要分开理解:交付评估套件,使外部实验室具备评价条件;可拆连接器,开始把制造与维护边界从固定光链路中分离出来。它们都还不能自动等于批量部署或跨供应商互通。

1. 1 Tbps 是起点,客户真正要接管的是一套测量边界

335 × 3 Gbps = 1005 Gbps,是名义通道乘法;公告将其表述为最高约 1 Tbps 原始汇总吞吐。要变成可验收规格,还要知道哪些通道运载数据,编码、帧格式、训练和备用通道怎样计入,以及每一路在什么条件下达到同一误码目标。

公司的 eKit 公告列出主机接口板、集成诊断和图形界面,可观察眼图、串扰、链路预算、功耗和 BER。这比单独给一张示波器图更接近系统开发工具;但 GUI 中能显示某项指标,并不意味着该指标的定义和全部测试条件已经公开。

我会先要求一个“可复现结果包”:同一套件版本、固件、温度、线长、活动通道集合和 PRBS 模式,对应逐路错误计数、累计位数、接收余量与供电边界。测试脚本、校准版本和异常日志也应随结果保存。这样外部实验室发现一条弱通道时,才能判断是样品问题、校准问题还是测量配置不同,而不是各自拿一个漂亮数字比较。

2. 多芯光纤连接器,真正难的是每次都回到同一张空间地图

Avicena 2025原始第9页:331根50微米照明光纤阵列、纤维中心间距分布与连接器照片
原始证据 P05-AVDECK-P09|Avicena,Micro-LED data interconnects / Transforming connectivity with ultra-fast µLEDs,2025-08-22,PDF/slide p9。原始演示。Hot Interconnects 托管,封面实际为 Applied Materials Workshop。厂商组件图:331 根、50 μm 直径照明光纤,中心间距分布、MTP-style 与 3 mm micro connector;不是 335 通道 eKit 同版规格或插拔可靠性测试。保留整页以对应阵列、分布和连接器;原图与必要标注未改;仅用于本段直接技术分析引用,版权归原作者/权利人,并非获授权转载。

先看左边的阵列和右边的间距分布,而不是只看连接器外观。对于空间并行链路,两次连接之间如果出现横移、旋转或端面倾斜,原本对应一颗 PD 的光可能变弱,也可能落向邻居。总功率没有明显下降,数据仍可能因通道串扰而出错。

一个简单的独立几何算例:离中心 r = 0.5 mm 的通道,连接器旋转 φ = 0.2°,小角度近似下横向位移 rφ 约为 1.75 μm。它不是 Avicena 的实际公差,只说明旋转为何会让边缘通道比中心更敏感。放大中心通道眼图,不能覆盖整个阵列的重连风险。

2025 年幻灯片展示了 MTP-style 连接器,但它不能证明 2026 年的在线连接器演示已经完成。更一般地说,即使采用熟悉的连接器外形,也不能跳过内部纤芯排列、通道映射、波长和损耗预算的接口定义;只有经过互操作验证,才能讨论跨供应商替换性。9 月 17 日当前可核对的预告不足以确认完整机械公差或互操作规格。

可行工程路径是把粗定位、精定位、防转、端面控制和应力释放分层设计,并把装配基准落实到可测量的机械特征。代价是结构复杂度、体积和公差链;若依靠软件重新映射降低机械精度,还要加上训练时间、备用像素和映射失效检测。后一种方法是可比较方案,不是本文声称 Avicena 已采用的内部实现。

3. 插损与串扰必须一起验收

Pezeshki原论文Fig.3:约12个选定通道,在有无其他通道串扰条件下的BER比较
原始证据 P05-AVPAPER-F03|B. Pezeshki,GaN Micro-LEDs for Chip-to-Chip Interconnects,CS MANTECH 2025,Paper 10A.1,PDF p2 Fig.3。原论文。约 12 条选定通道、2.5 Gb/s、定制 PD 阵列与集成 TIA,比较邻路活动影响的 BER 实测;不是连接器重插或 335 路 eKit 验收。原图与必要标注未改;仅用于本段直接技术分析引用,版权归原作者/权利人,并非获授权转载。

橙色点相对蓝色点上移,说明“邻居是否工作”会影响所测通道。对连接器化系统,我更想把这种对照扩展成 重连前后 × 邻居关开 × 温度 的实验矩阵,而不是只测一项平均插损。

测量可分三步。先逐个点亮 Tx,测所有 Rx,建立光学传输矩阵 Hᵢⱼ:对角项是目标传输,非对角项是串扰。再让邻居带不同数据模式同时工作,检查动态干扰。最后保持同样配置做 BER 和累计位数记录,判断光功率变化是否真正吃掉判决余量。

接收增益自动调整时必须留日志。否则更大的 TIA 增益可能掩盖接收光变弱,同时付出噪声、饱和或功耗代价。新增 1 dB 光损对应功率只剩约 79.4%,但不能据此线性推断 BER 或增加多少 LED 电流;LED 效率、接收噪声与眼图都会参与。

4. 可维护性不是“拔下来,再插回去”这一个动作

固定光路可以在工厂里长时间调到最佳点;可维护系统必须允许不同操作者、不同线缆、不同端口,在可接受时间内回到可用状态。至少有四类状态要明确:未接、已接但未训练、已锁定可传输、性能退化需服务。

端面污染可能遮挡一组通道;弯折和拉扯可能改变局部损耗;污染清除后重新连接也不保证原映射仍有效。因此验收不应只规定“能亮”,而应规定重连后的错误计数、训练结果、弱通道名单和允许恢复时间。

下面是本文建议的测试项目,不是公司已公布的认证结果:

测试要控制的变量关键输出
重复插拔与交叉配对同一端口换线缆、同一线缆换端口,记录操作者和次数逐路插损变化、最差通道、恢复成功率
弯折/侧向负载/温度循环保持数据模式与电流,单独改变机械或温度条件动态误码与漂移,不只测稳态平均
清洁前后对照有记录的端面状态及清洁步骤可恢复损耗、残留异常通道与重训次数
控制/断连事件光接口断开、接收端重启、模式变化告警、在途数据处理、训练与业务恢复时序

如果只给总成功率,仍可能掩盖固定的一组弱通道。应保留“哪一根线、哪个端口、哪一条 lane”三个层级的追踪关系,才能区分组件失效和系统性装配偏差。

5. 主机仍然很快,光侧“宽而慢”不自动消除接口电路

Avicena原始第11页:主机DSP和光侧Driver/TIA的边界,以及现有PAM4生态仍需SerDes的原始脚注
原始证据 P05-AVDECK-P11|Avicena,同一 2025-08-22 演示 PDF p11。原始出处。主机—Tx—Rx 图、能耗柱图及底部脚注完整。厂商比较未给齐统一速率、距离与实测条件,不据柱高排名;本段直接讨论现有 PAM4 主机仍需 SerDes 的脚注和系统边界。原图与必要标注未改;仅用于本段直接技术分析引用,版权归原作者/权利人,并非获授权转载。

这页比一句“没有 DSP”更有用:光侧低速 NRZ 可以降低模拟难度,但如果主机提供的是高速串行接口,系统仍要做速率、位宽、时钟与电气接口适配。把光引擎挪近 ASIC 有望缩短电路径,但会把散热、供电和现场维护带进更紧的封装空间。

因此评估套件向产品过渡的功耗验收,应同时记录主机接口、发射、接收和控制供电;闲置、满载与重训练要分开。否则一次重连后的校准或自适应补偿,可能让链路恢复通,却改变了原本承诺的能效。

6. 怎样判断下一次进度真的前进了?

截至 2026-09-20,可确认的是公司已公告评估套件交付,以及连接器化方案的未来演示计划;本轮没有获得客户验收报告、批量长期统计、公开互操作规范或连接器完整公差数据。未取得不等于不存在,但不能替它补写。

下一份最有价值的公开结果,是相同样机在可拆连接器加入前后的逐路 BER/损耗分布,以及多次重连、温度和邻居活动下的变化。再下一步是多个样机、多个线缆的交叉配对,以及可复现的故障定位流程。

对个人研究与工程积累而言,机会不必押在“哪家公司赢”。把高速电接口、密集光学阵列与可维护连接器放在同一套测试流程里,本身就是稀缺能力:既能读眼图和 BER,也能用空间映射与机械公差解释为什么某些通道先坏。技术价值在这种可验证、可复现的失效归因中,而不在转述产品口号。

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来源与说明

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